
厦门市致欣环保科技有限公司
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若光源为扩展光源(面光源),则只能在两相干光束的特定重叠区才能观察到干涉,故属定域干涉。对两表面互相平行的平面薄膜,干涉条纹定域在无穷远,通常借助于会聚透镜在其像方焦面内观察;对楔形薄膜,干涉条纹定域在薄膜附近。
薄膜干涉中两相干光的光程差公式为
式中n为薄膜的折射率;t为入射点的薄膜厚度;θt为薄膜内的折射角;±λ/2 是由于两束相干光在性质不同的两个界面(一个是光疏-光密界面,另一是光密-光疏界面)上反射而引起的附加光程差。 次数用完API KEY 超过次数限制

CeO2
使用高密度的钨舟皿(较早使用)蒸发,在200℃的基板上蒸着CeO2,得到一个约为2.2的折射率,在大约3000nm有一吸收带其折射率随基板温度的变化而发生显著变化,在300℃基板500nm区域折射率为2.45,在波长短过400nm时有吸收,传统方法蒸发缺乏紧密性,用氧离子助镀可取得n=2.35(500nm)的低吸收性薄膜,一般为颗粒状,还可用一增透膜和滤光片等。透光范围(nm) 折射率(N) 500nm 蒸发温度(℃) 蒸发源 应用 杂气排放量
400--16000 2.35 约2000 电子枪 防反膜, 多 次数用完API KEY 超过次数限制

c-factor是黏结面积与非黏结面积之比。比值越大,树脂收缩时受到的约束越大,故有研究认为:c-factor越大,收缩应力越大,反之亦然。Logu-erdo等认为c-factor大时,黏结界面树脂与牙体组织间隙大,黏结力小,收缩应力大。
c-factor大时,黏结力降低。但实验研究为了增加对比性,往往采用牙合面洞、邻牙合面洞黏结力与单个平面的黏结力对比,与临床相比,可能过高估计了c-factor的作用。 次数用完API KEY 超过次数限制


张经理先生
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